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產品介紹

霍爾效應測試儀 HET 是依據(jù)范德堡法測量材料的電運輸性能參數(shù)：載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或薄層材料均可測量，可應用于所有半導體材料，包括 Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可測量）, 廣泛應用于國內高校、研究所、半導體、金屬、高熱導有機新材料等行業(yè)。

產品特點

采用高精密度恒流源和電壓表，確保儀器測試的良好準確度和高穩(wěn)定性，性能優(yōu)越；

霍爾效應測試儀自動控制磁場方向的改變，更加便捷準確；

樣品裝夾快速方便，且使用能夠解決歐姆接觸的樣品芯片；

產品采用一體化、精密化設計，融入人性化的設計理念，不僅測量精確而且操作方便；

用戶界面操作簡單，功能齊全的軟件平臺帶給客戶友好的操作體驗，使測試過程更加方便快捷；
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應用功能

載流子類型鑒定：通過測量霍爾系數(shù)，可以確定電流攜帶者的類型，是正電荷的空穴還是負電荷的電子，從而獲得半導體或導體的電子結構和能帶特性；

載流子濃度測量：霍爾系數(shù)與載流子濃度之間存在關系，因此通過測量霍爾系數(shù)，可以估計材料中載流子的濃度；

遷移率評估：霍爾系數(shù)還可以用來計算載流子的遷移率，即電荷載流子在材料中移動的能力，從而對材料的電導率和電子遷移性等方面的深入研究；

材料電性能評估：通過了解材料的電子結構、載流子類型、濃度和遷移率等信息，可以更全面地評估材料的電性能，為電子器件和電路設計提供重要參考；
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